SN74BCT8244ADW datasheet: IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL BUFFERS- документация на электронные компоненты ChipManual.ru

SN74BCT8244ADW Datasheet
Название:	SN74BCT8244ADW
Информация:	IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL BUFFERS
Производитель:	Texas Instruments
Темп. режим:	Min: 0 \| Max: 70
Корпус:	DW
Кол-во выводов:	24
Скачать Datasheet:	SN74BCT8244ADW.PDF (0Kb)

SN74BCT8244ADW Datasheet