SN74BCT8373ADWR datasheet: IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES- документация на электронные компоненты ChipManual.ru

SN74BCT8373ADWR Datasheet
Название:	SN74BCT8373ADWR
Информация:	IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
Производитель:	Texas Instruments
Темп. режим:	Min: 0 \| Max: 70
Корпус:	DW
Кол-во выводов:	24
Скачать Datasheet:	SN74BCT8373ADWR.PDF (0Kb)

SN74BCT8373ADWR Datasheet