SN74LVTH182512DGGR datasheet: 3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS- документация на электронные компоненты ChipManual.ru

SN74LVTH182512DGGR Datasheet
Название:	SN74LVTH182512DGGR
Информация:	3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
Производитель:	Texas Instruments
Темп. режим:	Min: -40 \| Max: 85
Корпус:	DGG
Кол-во выводов:	64
Скачать Datasheet:	SN74LVTH182512DGGR.PDF (0Kb)

SN74LVTH182512DGGR Datasheet