SN74LVTH18646APM datasheet: 3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS- документация на электронные компоненты ChipManual.ru

SN74LVTH18646APM Datasheet
Название:	SN74LVTH18646APM
Информация:	3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS
Производитель:	Texas Instruments
Темп. режим:	Min: -40 \| Max: 85
Корпус:	PM
Кол-во выводов:	64
Скачать Datasheet:	SN74LVTH18646APM.PDF (0Kb)

SN74LVTH18646APM Datasheet