SNJ54BCT8240AFK datasheet: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS- документация на электронные компоненты ChipManual.ru

SNJ54BCT8240AFK Datasheet
Название:	SNJ54BCT8240AFK
Информация:	SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
Производитель:	Texas Instruments
Темп. режим:	Min: -55 \| Max: 125
Корпус:	FK
Кол-во выводов:	28
Скачать Datasheet:	SNJ54BCT8240AFK.PDF (0Kb)

SNJ54BCT8240AFK Datasheet