SN74ABTH18652APM - SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS

SN74ABTH18652APM Datasheet
Название:SN74ABTH18652APM
Информация: SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS
Производитель:Texas Instruments
Темп. режим:Min: -40 | Max: 85
Корпус:PM
Кол-во выводов:64
Скачать Datasheet:


* для возможности скачать файл введите два слова с картинки в поле выше.
SN74ABTH18652APM.PDF