SN74BCT8373ADW - IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

SN74BCT8373ADW Datasheet
Название:SN74BCT8373ADW
Информация: IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
Производитель:Texas Instruments
Темп. режим:Min: 0 | Max: 70
Корпус:DW
Кол-во выводов:24
Скачать Datasheet:


* для возможности скачать файл введите два слова с картинки в поле выше.
SN74BCT8373ADW.PDF