SN74BCT8374ADWR - SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

SN74BCT8374ADWR Datasheet
Название:SN74BCT8374ADWR
Информация: SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
Производитель:Texas Instruments
Темп. режим:Min: 0 | Max: 70
Корпус:DW
Кол-во выводов:24
Скачать Datasheet:


* для возможности скачать файл введите два слова с картинки в поле выше.
SN74BCT8374ADWR.PDF