SNJ54BCT8244AFK - SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS

SNJ54BCT8244AFK Datasheet
Название:SNJ54BCT8244AFK
Информация: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
Производитель:Texas Instruments
Темп. режим:Min: -55 | Max: 125
Корпус:FK
Кол-во выводов:28
Скачать Datasheet:


* для возможности скачать файл введите два слова с картинки в поле выше.
SNJ54BCT8244AFK.PDF