SNJ54BCT8373AFK - SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

SNJ54BCT8373AFK Datasheet
Название:SNJ54BCT8373AFK
Информация: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
Производитель:Texas Instruments
Темп. режим:Min: -55 | Max: 125
Корпус:FK
Кол-во выводов:28
Скачать Datasheet:


* для возможности скачать файл введите два слова с картинки в поле выше.
SNJ54BCT8373AFK.PDF