SN74BCT8374ADWR datasheet: SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS- документация на электронные компоненты ChipManual.ru

SN74BCT8374ADWR Datasheet
Название:	SN74BCT8374ADWR
Информация:	SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
Производитель:	Texas Instruments
Темп. режим:	Min: 0 \| Max: 70
Корпус:	DW
Кол-во выводов:	24
Скачать Datasheet:	SN74BCT8374ADWR.PDF (0Kb)

SN74BCT8374ADWR Datasheet